



主要用于平面類光學元件檢定和校準光學平晶(包括玻璃、金屬、陶瓷等),配備高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng),精密平面標準鏡等一系列高精技術,通過優(yōu)化光學系統(tǒng)和機械系統(tǒng)結構,可實現(xiàn)高精密平面光學元件的測量!
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| 1.1 適用于在電源220V(10%)/50Hz、氣溫攝氏5℃~30℃ 1.2 建議安放在防震工作臺上,環(huán)境清潔。 | |
| (1)測量方式:菲索干涉原理 (2)有效口徑:150mm (3)標準鏡材料:石英 康寧7980 (4)連續(xù)變倍:固定倍率 (5)顯示方式:電腦軟件或獨立顯示器 (6)平面標準鏡:精度PV ≤λ/20 (7)光 源:半導體激光 635nm (8)儀器尺寸:40cm x 40cm x 90cm (9)儀器重量:75kg 電 源:AC100-240V 50/60Hz |
標配含(專用干涉儀軟件) | ||
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