納米材料結(jié)構(gòu)分析方法和所需要的儀器
Atomic Force Microscopy (AFM):
原子力顯微鏡。利用一個固定在顯微臂上針尖，對樣品表面進行掃描，通過測量針尖在樣品表面滑動或垂直方向移動的作用力的變化，獲得樣品表面微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)、化學成份和物理性能的分析技術(shù)。

Auger Electron Spectroscopy (AES):
螺旋電子光譜、歐杰電子能譜儀。

BET adsorption method:
利用吸附氦氣與BET 法計算出比表面積與奈米微粒密度。根據(jù)壓力和吸附量的關(guān)係，用BET方程式計算出粉末表面氣體單分子層的吸附量，進而求得比表面積的方法。

Differential Mobility Analyzer (DMA):
微分電移動度分析儀。(交大環(huán)工所修正)

Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS):
電子能量損失光譜儀、電子能量損失能譜儀。

Electron Probe MicroAnalysis (EPMA):
電子探針微量分析、電子探針微分析。

Glow Discharge Mass Spectrometry (GDMS):
光釋放質(zhì)量光譜儀、光暈光放電質(zhì)譜儀。

Infrared Absorption Spectroscopy:
紅外吸收光譜法。研究紅外輻射與試樣分子振動和(或)轉(zhuǎn)動能級相互作用。利用紅外吸收光譜帶的波長位置和吸收強度，來測定樣品組成、分子結(jié)構(gòu)等的分析方法。

Magnetic Force Microscopy (MFM):
磁力顯微鏡。透過測量掃描探針與樣品表面間磁力的變化信號，來觀察樣品表面微區(qū)形貌和磁特性的分析技術(shù)。

malvern multisizer:
顆粒表面電位測定儀。(交大環(huán)工所修正)

mercury porosimetry:
壓汞儀法。對水銀加壓力，滲入多孔材料中，根據(jù)水銀壓入的孔半徑與壓力成反比的關(guān)係，求得多孔材料孔徑分佈的方法。

mossbauer spectrometry:
穆斯堡爾譜法。利用物質(zhì)中特定原子核對于γ 射線共振吸收，測量原子核與其核外環(huán)境(核外電子、近鄰電子及晶體結(jié)構(gòu)等)之間的相互作用，從而得到核外電子、近鄰原子及晶體結(jié)構(gòu)等信息的分析方法。

Photoluminescence (PL):
螢光。

Photon Correlation Spectroscopy (PCS):
光子相關(guān)譜法、光子關(guān)聯光譜法。用一單色相干的激光光束照射分散于液體中的顆粒，在某一角度(通常為90°)連續(xù)紀錄被顆粒散射的光，并傳送到相關(guān)器，應(yīng)用散射光強度自相關(guān)函數計算出顆粒的平均粒度和粒度分佈寬度的分析方法。

Raman spectrometry:
拉曼光譜法。以單色光照射試樣，有ㄧ小部分入射光與樣品分子碰撞后，產(chǎn)生非彈性散射，由于此譜線的產(chǎn)生往往涉及分子的振動能級的變化。該方法已被普遍應(yīng)用于測定試樣的組成、分子結(jié)構(gòu)等。

Scanning Electron Microscope (SEM):
掃描電子顯微鏡。為檢測微粒大小、形狀、架構(gòu)與膠凝作用技術(shù)之ㄧ。利用掃描入射電子束與樣品表面相互作用所產(chǎn)生的各種信號(如二次電子、X射線譜等)，採用不同的信號檢測器來觀察樣品表面形貌和化學組成的分析技術(shù)。

Scanning Mobility Particle Sizer (SMPS):
掃描式電移動度微粒分析儀、掃描漂移動微粒分析儀、掃描移動微粒分析�？梢詼蚀_量測微粒之粒徑（0.005~1.0 μm）分佈及數目濃度。

Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM):
掃描近場光學顯微鏡。利用孔欄限制的光纖掃描探針，在距離樣品表面一個波長以內(nèi)探測樣品表面的光學特性變化，將光信號的變化轉(zhuǎn)換成圖像，獲得樣品表面結(jié)構(gòu)及光學特性的分析技術(shù)。

Scanning Probe Microscopy (SPM):
掃描探針顯微鏡。利用測量掃描探針與樣品表面相互作用所產(chǎn)生的信號，在奈米級或原子級的水平上研究物質(zhì)表面的原子和分子的幾何結(jié)構(gòu)及相關(guān)物理、化學性質(zhì)的分析技術(shù)。

Scanning Thermal Microscopy (STHM):
掃描熱顯微鏡。透過控制、調(diào)節(jié)表面蓋有鎳層的鎢絲探針針尖與樣品間距，進行恆溫掃描，觀察樣品表面微區(qū)形貌的分析技術(shù)。

Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM):
掃描穿透電子顯微鏡。

Scanning Tunneling Microscopy (STM):
掃描隧道顯微鏡、掃描穿隧顯微鏡。利用曲率半徑為原子尺度的金屬針尖，在導體或半導體樣品表面掃描，在針尖與樣品間加一定電壓，利用「量子隧道效應(yīng)」來獲得反映樣品表面微區(qū)形貌及電子態(tài)圖像的分析技術(shù)。所謂隧道效應(yīng)係指粒子可穿過比本身總能量高的能量障礙。

scanning-probe instrument:
掃描探針儀器。

Small Angle X-Ray Scattering (SAXS):
X射線小角散射法、小角度X光散射法、小角度X-射線散射法。利用X射線在倒易點降原點(000 結(jié)點)附近的相關(guān)散射現(xiàn)象，來測定長週期結(jié)構(gòu)和奈米粉末粒度分佈的分析方法。

Transmission Electron Microscopy (TEM):
穿透式電子顯微鏡。為檢測微粒大小、形狀、架構(gòu)與膠凝作用技術(shù)之ㄧ；以透射電子為成像信號，透過電子光學系統(tǒng)的放大成像觀察樣品的微觀組織和形貌的分析技術(shù)。

transmission electron microscopy-image analysis:
透射電鏡-圖像分析法、穿透電子顯微鏡-對像分析。利用電子顯微鏡成像結(jié)合圖像分析系統(tǒng)，測量奈米粉末的形貌和粒度分佈的分析方法。

Ultrafine Condensation Particle Counter (UCPC):
超細凝結(jié)微粒計數器。(交大環(huán)工所修正)

X-Ray Absorption Near Edge Spectroscopy (XANES):
X光吸收邊緣結(jié)構(gòu)光譜。

X-Ray Diffractometry Line Broadening Method (XRD-LB):
X射線衍射線寬化法、X射線繞射線置化法。根據(jù)晶粒奈米化和/或晶格畸變所引起的衍射線寬化現(xiàn)象來測定晶粒尺寸和晶格畸變的分析方法。

X-Ray Diffractometry (XRD):
X射線衍射法、X光繞射法、X射線繞射法。根據(jù)物質(zhì)的X-射線衍射圖譜特徵，對其物相和結(jié)構(gòu)等進行測定的分析方法。

X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS):
X光光電子能譜儀。

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