標(biāo)題：表征部件老化檢測(cè)技術(shù)-電路板檢測(cè)顯微鏡
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2017-6-24 19:56:44
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正文:
表征部件老化檢測(cè)技術(shù)-電路板檢測(cè)顯微鏡
識(shí)別、理解和模擬材料的失效與損傷的機(jī)理是表征部件老化和
估計(jì)剩余壽命的要點(diǎn)。很明顯，不知道失效和損傷的機(jī)理就不能實(shí)
現(xiàn)老化的量化和剩余壽命的預(yù)計(jì)。通過(guò)利用設(shè)計(jì)資料、工作經(jīng)驗(yàn)和
失效分析等信息可以選擇最有可能的發(fā)生失效與損傷機(jī)理。
精確壽命評(píng)定方法的應(yīng)用，對(duì)關(guān)系到操作可靠性的提高和資源
分配的最優(yōu)化的壽命延長(zhǎng)決策是非常重要的。精確預(yù)測(cè)剩余壽命可
以為維修、替換或在計(jì)劃停機(jī)時(shí)拆卸關(guān)鍵部件等日程安排提供指導(dǎo)
，避免由于部件失效而導(dǎo)致計(jì)劃外的停機(jī)損失。
計(jì)算剩余壽命一般需要確定四方面信息： (1)限制設(shè)備連續(xù)
運(yùn)轉(zhuǎn)的部件；(2)導(dǎo)致部件失效的損害機(jī)理；(3)可以探測(cè)損傷和表
征損傷程度的檢測(cè)技術(shù)；(4)設(shè)備或結(jié)構(gòu)的數(shù)學(xué)模型，可以通過(guò)設(shè)
備以往的工作記錄和當(dāng)前的狀態(tài)來(lái)計(jì)算剩余壽命。
評(píng)定信息可用來(lái)判斷一個(gè)連接是否能夠經(jīng)受得住預(yù)計(jì)的使用壽
命期限，或者是否需要重新設(shè)計(jì)連接，來(lái)提高抵抗引起它失效的主
要機(jī)理的能力。延長(zhǎng)電氣連接或設(shè)備使用年限的關(guān)鍵在于能夠從其
工作經(jīng)驗(yàn)中提取信息，用來(lái)可靠地診斷和預(yù)測(cè)其當(dāng)前的狀況和剩余
壽命。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/9961.html
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