點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--

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正文:
用于工程表面
測(cè)量,具有軸向掃描的白光干涉測(cè)量技術(shù)有不同
的分類,而且還可以發(fā)現(xiàn)使用了以下一些名稱:
白光干涉測(cè)量(WLI)
垂直掃描干涉測(cè)量(VSI)
低相干干涉測(cè)量(LCI)
相干探針
光學(xué)相干輪廓測(cè)量(OCP)
光學(xué)相干顯微鏡測(cè)量
掃描白光干涉測(cè)量(SWLI)
白光掃描干涉測(cè)量(WLSI)
相干探頭顯微鏡測(cè)量(CPM)
相關(guān)顯微鏡測(cè)量
相位相關(guān)顯微鏡測(cè)量
干涉顯微鏡
顯微干涉測(cè)量
寬帶干涉測(cè)量
全域光學(xué)相干斷層成像
寬域光學(xué)相干斷層成像
相干雷達(dá)
條紋峰值掃描干涉測(cè)量
對(duì)于
生物標(biāo)本,同樣的測(cè)量方法主要叫做光學(xué)相干斷層成像(OCT
),但也叫做時(shí)域光學(xué)相干斷層成像(TD.OCT)、相干雷達(dá)或共焦干
涉顯微鏡。波長(zhǎng)掃描干涉儀
可替代白光和多波長(zhǎng)干涉儀的是光譜干涉儀,在較寬的波長(zhǎng)范
圍內(nèi),光譜干涉儀利用了光譜干涉條紋。光譜干涉條紋可以通過(guò)光
源波長(zhǎng)的掃描或者利用分光計(jì)將白光條紋分散開(kāi)來(lái)得到。
利用波長(zhǎng)掃描的光譜干涉測(cè)量所使用的裝置基于典型邁克耳遜
干涉儀,所不同的是其光源是波長(zhǎng)可調(diào)諧的。為了找到每一點(diǎn)對(duì)應(yīng)
的最佳的聚焦位置,這個(gè)系統(tǒng)不需要像在典型的共焦顯微鏡中進(jìn)行
的逐點(diǎn)軸向機(jī)械掃描,或者在白光干涉測(cè)量中的軸向場(chǎng)掃描那樣。
代替這些的是,對(duì)光源的波長(zhǎng)進(jìn)行掃描,從而觀察到不同頻率的條
紋,這樣被檢物體相對(duì)于參考反射鏡的高度就可以確定了。這種波
長(zhǎng)掃描輪廓儀給出了光滑和粗糙表面的形貌,
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北京顯微鏡百科
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