標(biāo)題：微晶的尺寸吸附體積測定儀器-測量顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2016-1-16 1:50:26
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正文:
如果固體無內(nèi)表面，可以通過測量它在不溶解或不起反應(yīng)的任
何流體中的排出量，得到真實(shí)密度，但是，如果是更慣常地有內(nèi)
表面，則應(yīng)考慮流體分子滲透入孔隙的能力，極接近真實(shí)密度的
值可以從氦的排出量得到，氦在室溫時(shí)，可以假定其吸附量為零
，正如在做吸附實(shí)驗(yàn)時(shí)一樣以已知質(zhì)量的吸附劑，置于基本上是
一種吸附體積測定儀器，經(jīng)過除氣后，導(dǎo)入已知時(shí)的氦，讀出壓
強(qiáng)，應(yīng)用氣體定律可以算出死空間中氦的體積，從空儀器的體積
減去此值，立刻得到吸附劑本身所占的體積，由于吸附劑的質(zhì)量
已知，隨著便得真實(shí)密度。
x-射線檢查
x-射線被晶體衍射，當(dāng)一反射束在晶體表面受到衍射時(shí)，得到
一系列的線條，從線條的位置可能計(jì)算出晶格參數(shù)，如果儀器完
好，實(shí)驗(yàn)情況理想，只要固體是“宏觀結(jié)晶”的，線條將是完全
明說的，即沒有任何寬度，實(shí)際上，因?yàn)閤-射線源的具體大小，
照片的具體膠體大小以及儀器的機(jī)械不完好，經(jīng)常得到一定程度
的“儀器性”的線條寬化，然而，迭加在這上面還有本體的寬化
，即指在儀器完好和條件理想的情況下仍然發(fā)生的寬化，可能由
三種原因引起：在晶體中原子層聚合次序的缺陷，或者根據(jù)目前
的觀點(diǎn)是最重要的，微晶的小尺寸，當(dāng)微晶的線長度小于約1000
A，微晶尺寸的影響就開始變?yōu)榭捎^。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7936.html
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