標(biāo)題：待測(cè)礦物各粒級(jí)顆粒在不同礦石中的含量比例計(jì)量顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-8-3 17:12:58
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正文:
待測(cè)礦物各粒級(jí)顆粒在不同礦石中的含量比例計(jì)量顯微鏡
礦石中待測(cè)礦物顆粒盡管呈不等粒產(chǎn)出，但當(dāng)各大小粒級(jí)的顆粒
皆按一定比例均勻嵌布地礦石的各部分中時(shí)，隨意測(cè)量少數(shù)礦石光
片中待測(cè)礦物的粒度特性，也可代表礦石中該礦物的嵌布粒度，可
是這樣的情況并不普遍。
通常待測(cè)礦物的各粒級(jí)顆粒在不同礦石中的含量比例并不一致，
所以取不同礦石光片所測(cè)得的礦物粒度情況將各不相同，因此粒度
測(cè)量時(shí)選取具有足夠代表性的礦石樣品是極為重要的工作，對(duì)不具
粒度代表性的礦石樣品進(jìn)行任何精確的粒度測(cè)量也將是徒勞，因?yàn)?/div>
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
我們所需要了解的是礦石整體中某種或某幾種礦物的嵌布粒度特性
，而不是某塊礦石中的礦物粒度情況，對(duì)粒度嵌布不均勻的礦石，
若使測(cè)量的結(jié)果與礦石的整體情況相近似，就需要進(jìn)行多塊礦石的
測(cè)量工作，可是供顯微鏡下測(cè)量粒度用的礦石光片數(shù)量卻不可能太
多，因此就必須通過(guò)分類加權(quán)取樣或碎礦拌均縮分的方法來(lái)選取測(cè)
量樣品，即選取具有粒度代表性可供定量測(cè)量用的樣品。
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