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正文:
金屬學及金屬物理實驗型圖像電子光學
顯微鏡生產(chǎn)廠商
在金屬學及金屬物理領域內(nèi),人們從相、原子、電子的層次
研究金屬材料;在半導體材料領域內(nèi).用類似的層次和方法研究陶
瓷材料:半導體是高純的單相體,人們從原子及電子的層次研究
它;高分子材料的分子相當于金屬材料中的相.在這個領域從事
工作的人們,則從分子、原子.電子的層次研究這類材料。
選擇結(jié)構(gòu)的層次,應該依據(jù)問題的性質(zhì)和要求,不要盲目地
追求
微觀化。一般說來,接近于工程應用尺寸的結(jié)構(gòu)層次的分析
和研究,實用性較大;較深層次的結(jié)構(gòu)分析和研究.則可用于理
解和控制現(xiàn)象。例如,對于力學性能來說.連續(xù)介質(zhì)、缺口體及
裂紋體的層次。對于工程設計和失效分析是十分有用的.為了了
解裂紋尖端的行為、建立力性與結(jié)構(gòu)的關系,需要深入到相與原
尋的尺寸;為了深入理解有關相的形成釉原子的行,為又需要深
入到電子的尺寸。又例如,薄層電子材料采用分子外延技術時.
每外延一層,必須在原子尺度檢查成分和排列,一開始就深入到
源子尺寸和層次.這種冶金技術已超出傳統(tǒng)的概念:叫做顯微
冶金
因此.應依據(jù)問題性質(zhì)去選擇結(jié)構(gòu)層次。研究森林時,便以
整個森林為對象,用有代表性的、典型的樹木為樣品來研究森
林;研究樹木時.樹木便是整體,以樹木各部分的研究去理解樹
木。不能以個別樹皮的圖象來說明森林特征,正好象不能以
個別而無代表意義的晶界原子圖象來說明材料的晶界結(jié)構(gòu)一樣
癢該強調(diào)指出.當實驗方法的分辨力提高時-則所觀察的試
樣面積的代表性.便是重要的問題。因為在_戽面積的視場內(nèi)
能夠觀察到的試樣面積是與分辨力成反比的。分辨力高的實驗方
法才能研究細節(jié).而分辨力低的實驗方法便于研究材料的整體。
這也就是樹木與森林的問題。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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