標(biāo)題：阿貝測(cè)長(zhǎng)光學(xué)儀器-測(cè)量?jī)x器或精密加工件讀數(shù)顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-7-7 16:08:53
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正文:
阿貝測(cè)長(zhǎng)光學(xué)儀器-測(cè)量?jī)x器或精密加工件讀數(shù)顯微鏡
絕對(duì)測(cè)長(zhǎng)器
如前所述，阿貝原則認(rèn)為被測(cè)件和標(biāo)準(zhǔn)件應(yīng)置于一直線
上，按此原則組成的測(cè)長(zhǎng)器，稱為阿貝測(cè)長(zhǎng)儀．
用絕對(duì)測(cè)長(zhǎng)器測(cè)量外側(cè)尺寸時(shí)，被測(cè)件有的具有頂尖孔，
有的則沒有頂尖孔，因而測(cè)量臺(tái)上的有關(guān)配備便相應(yīng)不同。
測(cè)量線準(zhǔn)確地和標(biāo)準(zhǔn)尺移動(dòng)軸線重合．
將被測(cè)件置于這樣的測(cè)量臺(tái)上進(jìn)行測(cè)量時(shí)，首先借升降
調(diào)節(jié)螺絲使測(cè)量線與被測(cè)件的測(cè)量位置重合．然后，一邊注
視讀數(shù)部分，邊調(diào)節(jié)測(cè)量臺(tái)的傾斜度，當(dāng)測(cè)量讀數(shù)為最小
時(shí)，即以此為測(cè)量值．
用兩頂尖測(cè)量時(shí)，將頂尖座置于測(cè)量臺(tái)上，將被測(cè)件支
承在頂尖間，并使被測(cè)件軸線在上下位置上與測(cè)量線重合
一邊注視讀數(shù)裝置，一邊將測(cè)量臺(tái)水平回轉(zhuǎn)，將所得的最小
讀數(shù)作為測(cè)量值。
標(biāo)準(zhǔn)線紋尺是精度最高的線紋度量器，和精度最高的端
面度量器量塊一樣，主要用于對(duì)測(cè)量?jī)x器或精密加工件等進(jìn)
。行比較測(cè)量。量塊所能顯示的尺寸僅為本身的制造尺寸及其
組合；而標(biāo)準(zhǔn)尺借助于讀數(shù)顯微鏡，卻可以顯示刻度之間
(通常為lmm)的任何小數(shù)。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7167.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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