標題：集成電路測試儀檢驗的晶片分析測量顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-6-23 15:41:27
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正文:
接著，將經(jīng)過檢驗的晶片，對每個電路進行特性測試，以判
斷電路的性能是否正常。這種電路測試很復(fù)雜，而且測試的項目
也很多，完全要用自動測試裝置(集成電路測試儀)進行。這種
集成電路測試儀，一般與進行成品檢測的測試儀是相同的。集成
電路測試儀與各個電路之間靠多探針頭和晶片電極壓焊點直接接
觸。這種裝置稱為晶片探針臺，備有自動傳送機構(gòu)、油墨印碼器
(在壞芯片上打汕墨標記)、傳感器(有檢測晶片有無及改變方向
的功能)等，
把梁式引線芯片置于顯微鏡的樣品臺上，如圖b-1所示。
樣品臺能在XY方向移動，并能旋轉(zhuǎn)。把顯微鏡的目鏡上刻好的
叉絲作為基準，使之與芯片上的線條對準，然后保持這個位置，
在芯片背面置有鍵合探頭，用探頭中心的吸管吸住芯片。對于基
片的端點也進行同樣的位置對準。首先，使吸住芯片的探頭下降
到基片面，保證經(jīng)如此對準后的芯片和基片間的套合精度為2.5
μm�；亩它c引線和芯片的引線大體相同。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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