標(biāo)題：微觀結(jié)構(gòu)形貌幾何特征分析圖像顯微鏡制造廠商
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-5-3 20:38:52
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正文:
微觀結(jié)構(gòu)的幾何特征
點(diǎn)形貌
很多具有點(diǎn)幾何學(xué)的形貌，即點(diǎn)缺陷，當(dāng)他們一起起作
用時(shí)，能強(qiáng)烈地與材料的其他微觀結(jié)構(gòu)形貌相互作用。點(diǎn)缺
陷，至少在這里包括置換和間隙雜質(zhì)空位和小的空位復(fù)合
體，間隙原子和間隙原子叢聚，以及它們的各種組合。
置換和間隙雜質(zhì)的來(lái)源是多種多樣的。實(shí)際上不可能獲
得一塊不含有一定數(shù)量的某些不希望有的雜質(zhì)原子的純金屬
或合金試樣.雜質(zhì)原子將根據(jù)尺寸大小和電學(xué).化學(xué)的性質(zhì)與
其他結(jié)構(gòu)形貌相互作用.這些相互作用又可以引起這些形貌
的結(jié)構(gòu)上的變化.它最終將影響整個(gè)材料的力學(xué)積物理性
能。另“方面雜質(zhì)能直接發(fā)生沉淀反應(yīng)，形成不希望有的相
或與一些合金元素結(jié)合成復(fù)雜的三元相.
除了晶粒棱邊以外，位錯(cuò)可能是屬于線形貌的唯一的一
種微觀結(jié)構(gòu)形貌.在塑性變形時(shí)，位錯(cuò)穿過(guò)晶體運(yùn)動(dòng)，并且
與晶界，析出相，點(diǎn)缺陷等相互作用
由此造成的微觀結(jié)構(gòu)上的變化，一般可用一
種金相技術(shù)來(lái)顯示.例如圖ka示出形變后形成位錯(cuò)胞狀結(jié)構(gòu)
的電子顯微術(shù)照相的證據(jù).做為降低固體彈性能的一種途徑，
雜質(zhì)原子易于聚集到位錯(cuò)上，由此可知，位錯(cuò)的任意運(yùn)動(dòng)都
將因而需要附加的能金(以施加應(yīng)力的形式)，以便使缺
陷能脫離這種雜質(zhì)氣團(tuán).分裂成不全位錯(cuò)的位錯(cuò)為層錯(cuò)的邊界
在某些情況下，這種缺陷是第二相沉淀的核心。
電子顯微照片能顯示這種缺陷的存在，但不能顯示相對(duì)于基
體的微小成分變化。場(chǎng)離子顯微鏡目前能揭示缺陷附近雜質(zhì)
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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