標(biāo)題：電子顯微鏡可以分析樣品的分辨率在5-10nm之間
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-12-26 19:04:51
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正文:
電子顯微鏡可以分析儀器分辨率在5-10nm之間
電子光學(xué)儀器對(duì)材料科學(xué)領(lǐng)域的沖擊在近些年是如此巨大，以至于光學(xué)顯
微方法在很多年輕的科研工作者眼里已成了日漸衰微的老古董，在先進(jìn)的研究
工作中越來(lái)越少用到，這樣的后果是很不幸的，前面已經(jīng)提到過(guò)，在檢測(cè)材料時(shí)
應(yīng)當(dāng)在很寬范圍的放大倍數(shù)下進(jìn)行的這個(gè)有益習(xí)慣卻越來(lái)越不被人們所遵循。
該類儀器分辨率在5-10nm之間，最好的可達(dá)到1nm左右。它的非同尋
常的焦深來(lái)源于這個(gè)事實(shí)，即使用了一個(gè)非常小的數(shù)字化光闌，但這個(gè)特性對(duì)
分辨率沒(méi)什么壞的影響，此時(shí)的分辨率并不像在光學(xué)顯微鏡上受衍射的影響，
而是受各種像差的彩響。掃描電子顯微鏡可以進(jìn)行成分分析
允許“原子序數(shù)襯度”，這樣不同原子序數(shù)的元素在拋光后的表面成像
呈現(xiàn)不同程度的亮度。
另一種新式常用的顯微術(shù)種類被稱為“取向成像顯微術(shù)”(Adams et al,
1993):由背散射電子產(chǎn)生的某個(gè)晶粒的圖像被電腦程序自動(dòng)地破解，然后被
檢側(cè)的晶粒自動(dòng)發(fā)生改變，最后利用這種方法確定下來(lái)的取向來(lái)產(chǎn)生多晶像，
這個(gè)多晶具有以不同顏色或不同厚度作為標(biāo)記的晶界來(lái)代表舟個(gè)晶界取向差的
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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