點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--

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正文:
三維結(jié)構(gòu)的參數(shù)是以二維圖像上的測(cè)量及計(jì)數(shù)的數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)
的。二維圖像上的測(cè)量包括面積與曲線長(zhǎng),二維圖像上的計(jì)數(shù),
主要是顆粒截面的計(jì)數(shù)。
在二維圖像上數(shù)顆粒的數(shù)目,要求先確定測(cè)試面積,在此面
積之內(nèi)計(jì)數(shù)。
首先在底片或照片上劃定測(cè)試面積,通常為長(zhǎng)方形。由于順
粒截面有可能壓在邊線上,在計(jì)數(shù)時(shí)必須遵循一定的原則?梢
有兩種辦法。一是取顆粒的長(zhǎng)軸與短軸的交點(diǎn)為中心點(diǎn),如果中
心在邊線內(nèi)測(cè),則計(jì)入,在外測(cè),則不計(jì)入,中心點(diǎn)壓在邊線
上,則計(jì)士,壓在四角的頂點(diǎn),則計(jì)+。另一種辦法是,顆粒截
面壓在上邊線及左邊線,均計(jì)入,壓在下邊線及右邊線,則不計(jì)
入。更嚴(yán)格些,右邊線向上的延線及左邊線向下的延線
以及下、右兩邊線,統(tǒng)稱為禁線(forbidden line),
壓在禁線上的顆粒截面,均不計(jì)入。禁線的這種規(guī)定,是為了避
免同一顆粒截面在相鄰的幾個(gè)測(cè)試面積中重復(fù)計(jì)數(shù)。
在電鏡照片上數(shù)一種題粒的截面,特別要注意識(shí)別通過(guò)顆粒
邊緣附近切出的小截面,這種截面不僅面積較小,而且邊緣不
清,反差較小,容易漏計(jì)。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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