標題：研究金屬試樣的物質(zhì)顯微結(jié)構(gòu)-金相分析圖像顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-8-23 1:47:30
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正文:
人們之所以能把電子當作研究物質(zhì)結(jié)構(gòu)的有用探針，其成功
取決于許多因素。與X射線不同，電子透鏡比較容易制作，并可
用來研究孤立缺陷的局部結(jié)構(gòu)。電子受到固體樣品的強烈散射，
因此可以用來進行散射和成象的實驗，而且在比較方便的短時間
內(nèi)獲得有用的信息和極好的統(tǒng)計結(jié)果(相對于以x射線衍射和高
能物理為基準而言)�！るS著電子源的發(fā)展，有可能得到亮度遠比粒
子物理其他領(lǐng)域中高得多的高亮度光源，同樣，高效率電子探All器
(光物質(zhì)、閃爍體和膠片)的存在已成為另一個影響研究物質(zhì)結(jié)
構(gòu)的重要因素。最后，用一個直徑不大于幾個nm的聚焦電子束
探針可以激發(fā)出很多種電子躍遷，這種效應(yīng)在近二十年中為化學
分析開辟了嶄新的可能性，原因是可以對這些躍遷的衰變產(chǎn)物(或
損失能量的電子本身)進行分析。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5953.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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