標(biāo)題：球形支點(diǎn)可減少因微粒引起誤差-測微顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-8-17 6:49:29
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正文:
球形支點(diǎn)可減少因微粒引起誤差-測微顯微鏡
常用的手動測微計可直接讀至千分之一英寸，如裝有微調(diào)可
讀至萬分之一英寸.雖然這些儀器有不足之處，但仍適用于測量
薄片的厚度.它們有二個主要缺陷:一是可能弄斷易碎的切片，
二是承物板(直徑一般近似于1/4英寸)上面的灰塵或砂粒也可能算
入測量的厚度中，改用球形支點(diǎn)可減少因微粒引起的問題(但因減
小了接觸面積卻增加了機(jī)械損傷樣品的可能性).
一個較好的辦法是把度盤式指示表裝在一個平坦工作臺面
上，臺上有一個對準(zhǔn)指示表的小球形突出物，球型觸點(diǎn)只突
出臺面幾個密耳，這樣對于一般尺寸的切片，由于薄片不垂
直于儀器中心線所產(chǎn)生的誤差便可以略而不計.度盤式指示
表為了放大讀數(shù)裝有齒輪組并且是彈簧承載的，不過這種
儀器上的負(fù)載通常比手動測微計小.
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5932.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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