標(biāo)題：光學(xué)顯微鏡可以用來觀察陶瓷顆粒顯微結(jié)構(gòu)
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-5-26 1:45:26
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正文:
光學(xué)顯微鏡可以用來觀察陶瓷顆粒顯微結(jié)構(gòu)
X射線衍射
盡管光學(xué)顯微鏡可以用，但是正常情況下相分析是采用X
射線衍射(XRD)。通常XRD采用粉末試樣，然而平面固體也可
以。通常試樣需要1-1.5g，但隨著試樣夾具設(shè)計的變化，各種
試樣的尺寸需作相應(yīng)調(diào)整。粉末陶瓷技術(shù)的應(yīng)用，可測定非常
少量的粉末。在多相材料中，次要組分的量大于1%~2%.
才能檢測到。一旦知道腐蝕后陶瓷的礦物結(jié)構(gòu)，對比未腐蝕的原
始材料，有助于確定腐蝕機理。
盡管能夠定量XRD結(jié)果，其精度取決于試樣的準(zhǔn)備(晶體
方向起到重要作用)、標(biāo)準(zhǔn)使用的質(zhì)量以及注意減少系統(tǒng)誤差和
偶然誤差。
主要問題在于高溫顯微鏡區(qū)分多相時，高溫
下峰變寬，各峰彼此之間界限模糊。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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