標(biāo)題：光學(xué)顯微鏡圖像分析有哪些特點(diǎn)-顆粒測(cè)量
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-12-12 20:38:47
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正文:
在討論這些問(wèn)題時(shí)必須牢記貫穿構(gòu)成顯微組織三維空間的
平截面的特性和局限性。
在一個(gè)由相同尺寸的球任意占有的體積中，任意一個(gè)平截面
都可給出截?cái)嗟那虻膱A跡線。這些圓的直徑從小到不能測(cè)出
直至大到某個(gè)最大值，因此球的直徑不能直接表示出來(lái)，
因?yàn)榇蠖鄶?shù)截面上的跡線并不表示球的真實(shí)直徑。此外，
為了得到這個(gè)最大值，顯然必須取大量的直徑測(cè)量值。
通過(guò)在平截面上進(jìn)行觀察和側(cè)量去測(cè)定在空間作隨機(jī)分布
的相同尺寸球的直徑一般是不難的，
因?yàn)槲覀円杨A(yù)先知道其形狀和尺寸都相等。但是，自然界
為我們提供這樣理想化的組織的機(jī)會(huì)是很少的，
我們又如何知道顆粒的尺寸實(shí)際上是相等的呢 如果它們不
相等，那么如何估算其平均尺寸值以及尺寸分布呢?
對(duì)于非球狀順粒也存在類似的問(wèn)題。顯然，
分布相呈片狀和棒狀的可能性比呈球狀的更大
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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