標(biāo)題：金屬材料的晶體的特征及測(cè)量尺寸工具顯微鏡
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-8-4 17:34:09
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正文:
晶體缺陷
金屬材料的晶體并非是完美的，在金屬晶體中還是含有許多的缺陷，這些缺陷
就是材料中的原子排列不規(guī)則的位置或區(qū)域，依據(jù)其缺陷尺寸的大小，可將晶體缺
陷分類(lèi)為點(diǎn)缺陷、線缺陷及面缺陷：
1.
點(diǎn)缺陷
當(dāng)一個(gè)原子從結(jié)晶格子上消失而使晶格位置未被占據(jù)，形成空缺(vacancy)，
此屬于金屬中最簡(jiǎn)單的點(diǎn)缺陷。圖 3-1 為原子平面上空缺的示意圖。形空缺
成的主要原因與晶體里面的原子在高溫時(shí)劇烈熱振動(dòng)有關(guān)。溫度升高時(shí)，金
屬的空缺濃度也愈高；由于在高溫下，原子可以較快速地在晶體里面擴(kuò)散，
所以反應(yīng)的現(xiàn)象也會(huì)較快
另外一種點(diǎn)缺陷是由插入雜質(zhì)原子到晶格空隙，對(duì)鄰近原生產(chǎn)生排擠現(xiàn)象，
使插入原子附近的晶格空隙變大，如圖3-2 為插入雜質(zhì)原子填入晶格空隙所
產(chǎn)生排擠示意圖。
2.
線缺陷
線缺陷又稱(chēng)為「差排(dislocation)」。差排的產(chǎn)生是由于晶體生長(zhǎng)不穩(wěn)定或金
屬在機(jī)械加工時(shí)的在晶體中引起部分滑移而產(chǎn)生的。所謂部分滑移是指晶體
的一部分發(fā)生滑移﹐而另一部分沒(méi)有發(fā)生滑移。差排線就是晶體中已滑移區(qū)
和未滑移區(qū)在滑移面上的交界線。它在晶體中構(gòu)成一個(gè)閉合環(huán)線或終止于晶
體表面
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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