標題：白光干涉顯微鏡的檢測應用
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2011-11-30 23:54:37
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正文:
白光干涉顯微鏡的檢測應用
結(jié)合光學顯微鏡與白光干涉顯微鏡的功能的掃描式白光涉顯微鏡，結(jié)合顯微物鏡與干涉顯微鏡，不需要複雜光路調(diào)整程序，兼顧體積小，
奈米解析度、易學用等優(yōu)點，可提供垂直掃描高度達400μma之微三維量測，適合各種材料與微元件表面特徵尺寸檢測。應用領堿包含 :
● 晶圓(Wafer)
● 光碟/硬碟 (DVD Disk/Hard Disk)
● 微機電元件(MEMS Components)
● 高密度線路印刷電路板(HDI PCB)
● IC封裝 (IC Package)
● 以及其它材料分析與元件微表面研究。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/1398.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應商
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