標(biāo)題：聚合物或其復(fù)合材料礦物分析圖像顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2019-9-27 18:46:36
將本頁加入收藏
下一篇：磨損氧化鋁的顆粒比圓形顆粒石棉分析顯微鏡
上一篇：填料應(yīng)用對(duì)聚合物折射率樣品分析顯微鏡
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--
---
---
---
正文:
聚合物或其復(fù)合材料礦物分析圖像顯微鏡
通過介電強(qiáng)度來表示聚合物或其復(fù)合材料耐高電壓擊穿的能力可
能十分復(fù)雜，因?yàn)椴粌H涉及材料的直接破壞而且涉及徑跡擊穿和飛弧
擊穿。因此它不僅隨材料的性質(zhì)而變而且隨雜質(zhì)和孔隙而變。
一般說來，填料引起介電強(qiáng)度的下降，例如在聚酯樹脂中30％的
碳酸鈣濃度使介電強(qiáng)度。不過有報(bào)導(dǎo)說玻璃可增加尼龍，聚碳酸酯和
苯乙烯二丙烯腈共聚樹脂的介電強(qiáng)度值。如果填料是吸濕的，它會(huì)吸
水到聚合物中從而降低介電強(qiáng)度。某些無機(jī)填料被認(rèn)為能干擾徑跡擊
穿現(xiàn)象的形成，從而可以改進(jìn)對(duì)這種形式破壞的抵抗能力，但是濃度
和制造工藝的性質(zhì)會(huì)進(jìn)一步影響此行為。纖維狀填料被報(bào)導(dǎo)降低放電
電阻。
關(guān)于介電常數(shù)和介電損失，必需強(qiáng)調(diào)兩者都受溫度和頻率的影響
，這實(shí)際上和介電強(qiáng)度一樣。加填料最嚴(yán)重的影響是在界面產(chǎn)生界面
極化，它與各個(gè)組分的介電常數(shù)之比有關(guān)：一般地說，礦物填料和金
屬趨向于增加總介電常數(shù)而有機(jī)填料則使之降低，但是在兩種情況下
，填料吸濕到復(fù)合材料中的任何趨勢都會(huì)改變這一情況。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/12184.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商